Registro completo
Títol:     Estudio de eventos transitorios inducidos por radiación en memorias SRAM nanométricas
Autor
Torrens Caldentey, Gabriel
Departament de Física
Editor: Universitat de les Illes Balears
Director de la tesi: Bota Ferragut, Sebastià
Matèries en català: Tecnologia electrònica -Electronic Technology
Paraules clau de l'autor: 

memorias, SRAM, 6T, 8T, CMOS, robustez, radiación, tolerancia, mitigación, soft error, single event upset, SEU, single event effect, SEE, SER, carga crítica, Qcrit, diseño, layout, partículas alfa, estabilidad, SNM, MBU, MCU

memories, SRAM, 6T, 8T, CMOS, robustness, radiation, tolerance, mitigation, soft error, single event upset, SEU, single event effect, SEE, SER, critical charge, Qcrit, design, layout, alpha particles, stability, SNM, MBU, MCU

memòries, SRAM, 6T, 8T, CMOS, robustesa, radiació, tolerància, mitigació, soft error, single event upset, SEU, single event effect, SEE, SER, càrrega crítica, Qcrit, disseny, layout, partícules alfa, estabilitat, SNM, MBU, MCU