|
Registro completo | |
---|---|
Títol: | Estudio de eventos transitorios inducidos por radiación en memorias SRAM nanométricas |
Autor |
|
Editor: | Universitat de les Illes Balears |
Director de la tesi: | Bota Ferragut, Sebastià |
Matèries en català: | Tecnologia electrònica -Electronic Technology |
Paraules clau de l'autor: |
memorias, SRAM, 6T, 8T, CMOS, robustez, radiación, tolerancia, mitigación, soft error, single event upset, SEU, single event effect, SEE, SER, carga crítica, Qcrit, diseño, layout, partículas alfa, estabilidad, SNM, MBU, MCU memories, SRAM, 6T, 8T, CMOS, robustness, radiation, tolerance, mitigation, soft error, single event upset, SEU, single event effect, SEE, SER, critical charge, Qcrit, design, layout, alpha particles, stability, SNM, MBU, MCU memòries, SRAM, 6T, 8T, CMOS, robustesa, radiació, tolerància, mitigació, soft error, single event upset, SEU, single event effect, SEE, SER, càrrega crítica, Qcrit, disseny, layout, partícules alfa, estabilitat, SNM, MBU, MCU |